Lorsqu'une décharge partielle se produit à l'intérieur d'une cellule métallique, le courant de l'impulsion cherche la terre et provoque au passage un saut de tension de très courte durée sur la surface extérieure de l'enveloppe. Ce saut, de l'ordre du millivolt à quelques dizaines de volts avec un front de quelques nanosecondes, est ce qu'on appelle le TEV.
Son grand avantage pratique est qu'il se mesure de l'extérieur, en appuyant un capteur capacitif sur la tôle de la cellule, sans l'ouvrir et sans la mettre hors tension. L'inspection TEV devient ainsi une ronde rapide, répétable souvent sur toute une salle moyenne tension.
La lecture s'exprime en dBmV et s'interprète par comparaison : entre cellules voisines, par rapport au bruit de fond de la salle et par rapport à l'historique du même point. Une valeur isolée ne dit pas grand-chose ; ce qui signale un problème, c'est une cellule qui se détache de ses voisines ou qui dérive dans le temps.